本發(fā)明涉及電路板檢測，尤其涉及一種印刷電路板的缺陷檢測方法、系統(tǒng)、裝置和存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)：
1、在pcb的工業(yè)缺陷檢測領(lǐng)域，大多利用可見光圖像進(jìn)行自動(dòng)光學(xué)檢測(aoi)，而用于aoi的圖像質(zhì)量往往直接決定檢測精度的高低。由于pcb上印刷的銅等金屬對光具有較強(qiáng)的反射能力，當(dāng)鏡面反射光進(jìn)入ccd相機(jī)時(shí)會(huì)在采集到的圖像上出現(xiàn)高光區(qū)域，使得檢測精度下降；甚至，高光區(qū)域會(huì)掩蓋該位置pcb板的紋理結(jié)構(gòu)，如果該位置存在缺陷就會(huì)導(dǎo)致漏檢的情況。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、有鑒于此，為解決上述問題之一，本發(fā)明實(shí)施例的目的是提供一種印刷電路板的缺陷檢測方法、系統(tǒng)、裝置和存儲(chǔ)介質(zhì)，提高檢測精度，減少漏檢。
2、一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種印刷電路板的缺陷檢測方法，包括：
3、獲取若干組不同組合的入射光偏振態(tài)和出射光偏振態(tài)對應(yīng)的印刷電路板的偏振態(tài)圖像；其中，光源發(fā)出的光調(diào)整入射光偏振態(tài)后照射到印刷電路板，印刷電路板反射的光調(diào)整出射光偏振態(tài)后形成偏振態(tài)圖像；
4、根據(jù)所述偏振態(tài)圖像確定mueller矩陣，并根據(jù)所述mueller矩陣確定若干個(gè)特征值；
5、根據(jù)若干個(gè)所述特征值進(jìn)行圖像重構(gòu)，并根據(jù)重構(gòu)后的圖像進(jìn)行缺陷檢測。
6、可選地，所述根據(jù)所述偏振態(tài)圖像確定mueller矩陣，包括：
7、根據(jù)所述偏振態(tài)圖像確定光強(qiáng)向量；
8、根據(jù)所述入射光偏振態(tài)和所述出射光偏振態(tài)計(jì)算系數(shù)矩陣；
9、根據(jù)所述光強(qiáng)向量和所述系數(shù)矩陣確定mueller矩陣。
10、可選地，所述根據(jù)所述mueller矩陣確定若干個(gè)特征值，包括：
11、若所述mueller矩陣的行列式大于或等于0，對所述mueller矩陣進(jìn)行第一分解，確定若干個(gè)特征值；
12、若所述mueller矩陣的行列式小于0，對所述mueller矩陣進(jìn)行第二分解，確定若干個(gè)特征值。
13、可選地，所述根據(jù)若干個(gè)所述特征值進(jìn)行圖像重構(gòu)，包括：
14、將若干個(gè)所述特征值映射到預(yù)設(shè)空間，并分別根據(jù)映射后的值進(jìn)行圖像重構(gòu)。
15、可選地，所述方法還包括：
16、根據(jù)所述入射光偏振態(tài)計(jì)算偏振度，并根據(jù)所述偏振度進(jìn)行圖像重構(gòu)。
17、另一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種印刷電路板的缺陷檢測系統(tǒng)，包括：
18、第一模塊，用于獲取若干組不同組合的入射光偏振態(tài)和出射光偏振態(tài)對應(yīng)的印刷電路板的偏振態(tài)圖像；其中，光源發(fā)出的光調(diào)整入射光偏振態(tài)后照射到印刷電路板，印刷電路板反射的光調(diào)整出射光偏振態(tài)后形成偏振態(tài)圖像；
19、第二模塊，用于根據(jù)所述偏振態(tài)圖像確定mueller矩陣，并根據(jù)所述mueller矩陣確定若干個(gè)特征值；
20、第三模塊，用于根據(jù)若干個(gè)所述特征值進(jìn)行圖像重構(gòu)，并根據(jù)重構(gòu)后的圖像進(jìn)行缺陷檢測。
21、另一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種印刷電路板的缺陷檢測裝置，包括：
22、至少一個(gè)處理器；
23、至少一個(gè)存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)至少一個(gè)程序；
24、當(dāng)所述至少一個(gè)程序被所述至少一個(gè)處理器執(zhí)行，使得所述至少一個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)上述的方法。
25、另一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其中存儲(chǔ)有處理器可執(zhí)行的程序，所述處理器可執(zhí)行的程序在由處理器執(zhí)行時(shí)用于執(zhí)行上述的方法。
26、另一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種印刷電路板的缺陷檢測系統(tǒng)，包括光源、偏振態(tài)產(chǎn)生模塊、偏振態(tài)檢測模塊、成像裝置和計(jì)算機(jī)設(shè)備；其中，所述光源發(fā)出的光依次經(jīng)過所述偏振態(tài)產(chǎn)生模塊、待檢測印刷電路板和所述偏振態(tài)檢測模塊后，在所述成像裝置成像，
27、所述偏振態(tài)產(chǎn)生模塊，用于調(diào)整入射光偏振態(tài)；
28、所述偏振態(tài)檢測模塊，用于調(diào)整出射光偏振態(tài)；
29、所述成像裝置，用于生成印刷電路板的偏振態(tài)圖像；
30、所述計(jì)算機(jī)設(shè)備包括：
31、至少一個(gè)處理器；
32、至少一個(gè)存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)至少一個(gè)程序；
33、當(dāng)所述至少一個(gè)程序被所述至少一個(gè)處理器執(zhí)行，使得所述至少一個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)上述的方法。
34、可選地，偏振態(tài)產(chǎn)生模塊包括第一偏振片和第一波片，所述偏振態(tài)檢測模塊包括第二波片和第二偏振片。
35、實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例包括以下有益效果：本實(shí)施例將光源發(fā)出的光調(diào)整入射光偏振態(tài)后照射到印刷電路板，印刷電路板反射的光調(diào)整出射光偏振態(tài)后形成偏振態(tài)圖像，根據(jù)若干組不同組合的入射光偏振態(tài)和出射光偏振態(tài)對應(yīng)的印刷電路板的偏振態(tài)圖像確定mueller矩陣，并根據(jù)mueller矩陣的若干個(gè)特征值進(jìn)行圖像重構(gòu)，對重構(gòu)后的圖像進(jìn)行缺陷檢測，從而消除由于印刷電路板的鏡面反射導(dǎo)致的高光現(xiàn)象，從而提高檢測精度，減少漏檢。
1.一種印刷電路板的缺陷檢測方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述偏振態(tài)圖像確定mueller矩陣，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述mueller矩陣確定若干個(gè)特征值，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)若干個(gè)所述特征值進(jìn)行圖像重構(gòu)，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
6.一種印刷電路板的缺陷檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括：
7.一種印刷電路板的缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：
8.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其中存儲(chǔ)有處理器可執(zhí)行的程序，其特征在于，所述處理器可執(zhí)行的程序在由處理器執(zhí)行時(shí)用于執(zhí)行如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的方法。
9.一種印刷電路板的缺陷檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括光源、偏振態(tài)產(chǎn)生模塊、偏振態(tài)檢測模塊、成像裝置和計(jì)算機(jī)設(shè)備；其中，所述光源發(fā)出的光依次經(jīng)過所述偏振態(tài)產(chǎn)生模塊、待檢測印刷電路板和所述偏振態(tài)檢測模塊后，在所述成像裝置成像，
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其特征在于，偏振態(tài)產(chǎn)生模塊包括第一偏振片和第一波片，所述偏振態(tài)檢測模塊包括第二波片和第二偏振片。