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一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置的制作方法

文檔序號(hào):42792740發(fā)布日期:2025-08-19 18:16閱讀:27來(lái)源:國(guó)知局

本技術(shù)涉及檢測(cè)設(shè)備,特別涉及一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置。


背景技術(shù):

1、在對(duì)零件進(jìn)行加工時(shí),零件的加工精度會(huì)直接影響該零件在整個(gè)設(shè)備中的使用,因此對(duì)于零件的尺寸精度要求非常高,因此,在零件加工完成后需要對(duì)零件進(jìn)行精確的檢測(cè),對(duì)于有平面度要求的工件平面,通常需要對(duì)相關(guān)平面進(jìn)行檢測(cè)以篩選次品,從而保證成品的質(zhì)量。

2、目前的工件平面度檢測(cè)設(shè)備在使用時(shí),用于檢測(cè)的傳感器或百分表無(wú)法保證始終與待檢測(cè)工件的檢測(cè)平面保持垂直,會(huì)影響檢測(cè)結(jié)果,并且待檢測(cè)工件在檢測(cè)過(guò)程中待檢測(cè)平面發(fā)生偏移也會(huì)影響檢測(cè)精度。

3、因此,有必要提供一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置解決上述技術(shù)問(wèn)題。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本實(shí)用新型的目的在于提供一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置,以解決上述背景技術(shù)中提出的問(wèn)題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置,包括底座和支撐塊,所述支撐塊設(shè)置在底座上,所述支撐塊頂部設(shè)置有固定盤(pán),所述固定盤(pán)結(jié)構(gòu)為階梯軸,所述固定盤(pán)底部中間位置開(kāi)設(shè)有安裝槽,所述安裝槽內(nèi)設(shè)置有定位盤(pán),所述固定盤(pán)上套設(shè)有轉(zhuǎn)盤(pán),所述轉(zhuǎn)盤(pán)中部開(kāi)設(shè)有轉(zhuǎn)孔,所述固定盤(pán)頂部貫穿轉(zhuǎn)孔并與轉(zhuǎn)盤(pán)頂部齊平,所述轉(zhuǎn)盤(pán)底部開(kāi)設(shè)有安裝孔,所述安裝孔內(nèi)設(shè)置有軸承,所述固定盤(pán)上端套設(shè)在軸承內(nèi)圈內(nèi),所述轉(zhuǎn)盤(pán)外圓周面上開(kāi)設(shè)有兩個(gè)第四插孔,所述第四插孔內(nèi)設(shè)置有固定桿,所述轉(zhuǎn)盤(pán)頂部設(shè)置有轉(zhuǎn)子殼體,所述固定盤(pán)上開(kāi)設(shè)有第二插孔,所述第二插孔內(nèi)插接有百分表,所述底座上設(shè)置有連接架,所述連接架頂部開(kāi)設(shè)有凹槽,所述百分表卡接在凹槽內(nèi)。

3、作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述底座上開(kāi)設(shè)有四個(gè)第一螺紋孔,所述支撐塊底部四角均開(kāi)設(shè)有第一沉頭孔,四個(gè)所述第一沉頭孔分別正對(duì)四個(gè)第一螺紋孔開(kāi)設(shè),所述第一沉頭孔內(nèi)設(shè)置有第三螺釘,所述第三螺釘?shù)穆菁y部旋合進(jìn)第一螺紋孔內(nèi)。

4、作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述支撐塊截面結(jié)構(gòu)為工字型,所述支撐塊頂部四角均開(kāi)設(shè)有第二沉頭孔,所述固定盤(pán)底部中間位置開(kāi)設(shè)有卡槽,所述卡槽結(jié)構(gòu)為方形,且所述卡槽的外形與支撐塊頂部外形適配,所述支撐塊頂部卡接在卡槽內(nèi),所述卡槽底部四角均開(kāi)設(shè)有第四螺紋孔,四個(gè)所述第四螺紋孔分別正對(duì)四個(gè)第二沉頭孔,所述第二沉頭孔內(nèi)設(shè)置有第二螺釘,所述第二螺釘?shù)穆菁y部旋合進(jìn)第四螺紋孔內(nèi)。

5、作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述安裝槽底部中心開(kāi)設(shè)有第三螺紋孔,所述安裝槽底部開(kāi)設(shè)有兩個(gè)第一插孔,兩個(gè)所述第一插孔關(guān)于第三螺紋孔中心對(duì)稱(chēng)分布,所述定位盤(pán)中部開(kāi)設(shè)有第三沉頭孔,所述第三沉頭孔內(nèi)設(shè)置有第一螺釘,所述第一螺釘?shù)穆菁y部旋合進(jìn)第三螺紋孔內(nèi),所述第一插孔內(nèi)插接有定位柱,所述定位盤(pán)上表面開(kāi)設(shè)有兩個(gè)定位孔,所述定位柱頂部插接在定位孔內(nèi)。

6、作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述轉(zhuǎn)子殼體上表面開(kāi)設(shè)有放置槽,所述放置槽底部開(kāi)設(shè)有通孔,所述通孔外形與定位盤(pán)外形適配。

7、作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述轉(zhuǎn)盤(pán)頂部開(kāi)設(shè)有兩個(gè)第三插孔,所述第三插孔內(nèi)插接有限位柱,所述放置槽底部均勻開(kāi)設(shè)有六個(gè)限位孔,所述限位孔直徑與限位柱直徑大小相同,所述放置槽底部均勻開(kāi)設(shè)有六個(gè)切槽。

8、作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述底座上開(kāi)設(shè)有兩個(gè)第二螺紋孔,所述連接架上設(shè)置有第四螺釘,所述第四螺釘?shù)穆菁y部旋合進(jìn)第二螺紋孔內(nèi)。

9、作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述固定桿端部設(shè)置有手柄頭。

10、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的有益效果是:

11、本實(shí)用新型所述的一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置,本實(shí)用新型通過(guò)在轉(zhuǎn)盤(pán)上安裝限位柱和定位盤(pán)對(duì)轉(zhuǎn)子殼體進(jìn)行定位安裝,將轉(zhuǎn)子殼體的通孔和限位孔分別插接在定位盤(pán)和限位柱上,完成對(duì)轉(zhuǎn)子殼體的定位,安裝方便快速,安裝牢靠,定位精準(zhǔn),安裝后的轉(zhuǎn)子殼體底部與轉(zhuǎn)盤(pán)頂部貼合,不會(huì)發(fā)生偏移,將百分表插裝到第二插孔內(nèi),并將百分表的檢測(cè)頭頂部與固定盤(pán)頂部齊平,手動(dòng)推動(dòng)固定桿,使得轉(zhuǎn)子殼體隨著轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng),轉(zhuǎn)子殼體在轉(zhuǎn)動(dòng)過(guò)程中,轉(zhuǎn)子殼體底部與百分表的檢測(cè)頭接觸,當(dāng)轉(zhuǎn)子殼體底部不平整時(shí),百分表的指針發(fā)生較大轉(zhuǎn)動(dòng),通過(guò)百分表的變化來(lái)檢測(cè)轉(zhuǎn)子殼體底部平面度是否合格,操作簡(jiǎn)單方便,檢測(cè)精度高,檢測(cè)效率高。



技術(shù)特征:

1.一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置,包括底座(1)和支撐塊(2),所述支撐塊(2)設(shè)置在底座(1)上,其特征在于:所述支撐塊(2)頂部設(shè)置有固定盤(pán)(3),所述固定盤(pán)(3)結(jié)構(gòu)為階梯軸,所述固定盤(pán)(3)底部中間位置開(kāi)設(shè)有安裝槽(31),所述安裝槽(31)內(nèi)設(shè)置有定位盤(pán)(11),所述固定盤(pán)(3)上套設(shè)有轉(zhuǎn)盤(pán)(4),所述轉(zhuǎn)盤(pán)(4)中部開(kāi)設(shè)有轉(zhuǎn)孔(41),所述固定盤(pán)(3)頂部貫穿轉(zhuǎn)孔(41)并與轉(zhuǎn)盤(pán)(4)頂部齊平,所述轉(zhuǎn)盤(pán)(4)底部開(kāi)設(shè)有安裝孔(43),所述安裝孔(43)內(nèi)設(shè)置有軸承,所述固定盤(pán)(3)上端套設(shè)在軸承內(nèi)圈內(nèi),所述轉(zhuǎn)盤(pán)(4)外圓周面上開(kāi)設(shè)有兩個(gè)第四插孔(44),所述第四插孔(44)內(nèi)設(shè)置有固定桿(8),所述轉(zhuǎn)盤(pán)(4)頂部設(shè)置有轉(zhuǎn)子殼體(5),所述固定盤(pán)(3)上開(kāi)設(shè)有第二插孔(34),所述第二插孔(34)內(nèi)插接有百分表(6),所述底座(1)上設(shè)置有連接架(7),所述連接架(7)頂部開(kāi)設(shè)有凹槽,所述百分表(6)卡接在凹槽內(nèi)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置,其特征在于:所述底座(1)上開(kāi)設(shè)有四個(gè)第一螺紋孔(101),所述支撐塊(2)底部四角均開(kāi)設(shè)有第一沉頭孔(201),四個(gè)所述第一沉頭孔(201)分別正對(duì)四個(gè)第一螺紋孔(101)開(kāi)設(shè),所述第一沉頭孔(201)內(nèi)設(shè)置有第三螺釘(15),所述第三螺釘(15)的螺紋部旋合進(jìn)第一螺紋孔(101)內(nèi)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置,其特征在于:所述支撐塊(2)截面結(jié)構(gòu)為工字型,所述支撐塊(2)頂部四角均開(kāi)設(shè)有第二沉頭孔(202),所述固定盤(pán)(3)底部中間位置開(kāi)設(shè)有卡槽(35),所述卡槽(35)結(jié)構(gòu)為方形,且所述卡槽(35)的外形與支撐塊(2)頂部外形適配,所述支撐塊(2)頂部卡接在卡槽(35)內(nèi),所述卡槽(35)底部四角均開(kāi)設(shè)有第四螺紋孔(36),四個(gè)所述第四螺紋孔(36)分別正對(duì)四個(gè)第二沉頭孔(202),所述第二沉頭孔(202)內(nèi)設(shè)置有第二螺釘(14),所述第二螺釘(14)的螺紋部旋合進(jìn)第四螺紋孔(36)內(nèi)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置,其特征在于:所述安裝槽(31)底部中心開(kāi)設(shè)有第三螺紋孔(32),所述安裝槽(31)底部開(kāi)設(shè)有兩個(gè)第一插孔(33),兩個(gè)所述第一插孔(33)關(guān)于第三螺紋孔(32)中心對(duì)稱(chēng)分布,所述定位盤(pán)(11)中部開(kāi)設(shè)有第三沉頭孔(111),所述第三沉頭孔(111)內(nèi)設(shè)置有第一螺釘(13),所述第一螺釘(13)的螺紋部旋合進(jìn)第三螺紋孔(32)內(nèi),所述第一插孔(33)內(nèi)插接有定位柱(12),所述定位盤(pán)(11)上表面開(kāi)設(shè)有兩個(gè)定位孔(112),所述定位柱(12)頂部插接在定位孔(112)內(nèi)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置,其特征在于:所述轉(zhuǎn)子殼體(5)上表面開(kāi)設(shè)有放置槽(51),所述放置槽(51)底部開(kāi)設(shè)有通孔(52),所述通孔(52)外形與定位盤(pán)(11)外形適配。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置,其特征在于:所述轉(zhuǎn)盤(pán)(4)頂部開(kāi)設(shè)有兩個(gè)第三插孔(42),所述第三插孔(42)內(nèi)插接有限位柱(10),所述放置槽(51)底部均勻開(kāi)設(shè)有六個(gè)限位孔(53),所述限位孔(53)直徑與限位柱(10)直徑大小相同,所述放置槽(51)底部均勻開(kāi)設(shè)有六個(gè)切槽(54)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置,其特征在于:所述底座(1)上開(kāi)設(shè)有兩個(gè)第二螺紋孔(102),所述連接架(7)上設(shè)置有第四螺釘(16),所述第四螺釘(16)的螺紋部旋合進(jìn)第二螺紋孔(102)內(nèi)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置,其特征在于:所述固定桿(8)端部設(shè)置有手柄頭(9)。


技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開(kāi)了一種電機(jī)轉(zhuǎn)子外殼平面度檢測(cè)裝置,包括底座和支撐塊,所述支撐塊設(shè)置在底座上,所述支撐塊頂部設(shè)置有固定盤(pán),所述固定盤(pán)結(jié)構(gòu)為階梯軸,所述固定盤(pán)底部中間位置開(kāi)設(shè)有安裝槽,所述安裝槽內(nèi)設(shè)置有定位盤(pán),所述固定盤(pán)上套設(shè)有轉(zhuǎn)盤(pán),所述轉(zhuǎn)盤(pán)中部開(kāi)設(shè)有轉(zhuǎn)孔,所述固定盤(pán)頂部貫穿轉(zhuǎn)孔并與轉(zhuǎn)盤(pán)頂部齊平,所述轉(zhuǎn)盤(pán)底部開(kāi)設(shè)有安裝孔,所述安裝孔內(nèi)設(shè)置有軸承,本技術(shù)通過(guò)手動(dòng)推動(dòng)固定桿,使得轉(zhuǎn)子殼體隨著轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng),轉(zhuǎn)子殼體在轉(zhuǎn)動(dòng)過(guò)程中,轉(zhuǎn)子殼體底部與百分表的檢測(cè)頭接觸,當(dāng)轉(zhuǎn)子殼體底部不平整時(shí),百分表的指針發(fā)生較大轉(zhuǎn)動(dòng),通過(guò)百分表的變化來(lái)檢測(cè)轉(zhuǎn)子殼體底部平面度是否合格,操作簡(jiǎn)單方便,檢測(cè)效率高。

技術(shù)研發(fā)人員:葉銘威,葉志旺
受保護(hù)的技術(shù)使用者:瑞安市龍威機(jī)電有限公司
技術(shù)研發(fā)日:20250704
技術(shù)公布日:2025/8/18
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