本申請(qǐng)涉及核探測(cè)，尤其涉及一種核探測(cè)器的電流檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備、介質(zhì)及程序產(chǎn)品。
背景技術(shù)：
1、通過(guò)超導(dǎo)量子干涉儀(superconducting?quantum?interference?device，squid)，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)同位素所輻射的γ射線的高準(zhǔn)確度以及高分辨率的探測(cè)。squid的吸收體通常為au:er傳感器，其拾波線圈兼具提供磁場(chǎng)與拾取感應(yīng)電流的功能。
2、在啟動(dòng)檢測(cè)流程之前，需要利用金鈀熱開(kāi)關(guān)向拾波線圈中注入一段超導(dǎo)電流，以使得拾波線圈能夠提供磁場(chǎng)并使磁量熱計(jì)后續(xù)能夠正常工作，但相關(guān)技術(shù)中無(wú)法確認(rèn)超導(dǎo)電流是否注入成功。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、基于以上技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種核探測(cè)器的電流檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備、介質(zhì)及程序產(chǎn)品。
2、本申請(qǐng)實(shí)施例提供的技術(shù)方案是這樣的：
3、本申請(qǐng)實(shí)施例首先提供了一種核探測(cè)器的電流檢測(cè)方法，所述方法包括：
4、調(diào)整所述核探測(cè)器所處環(huán)境的溫度至第一溫度，以控制檢測(cè)組件切換至超導(dǎo)狀態(tài)；其中，所述核探測(cè)器的拾波線圈預(yù)先被執(zhí)行電流注入操作；所述檢測(cè)組件電性連接至所述拾波線圈的兩端；
5、通過(guò)處于超導(dǎo)狀態(tài)的檢測(cè)組件檢測(cè)所述拾波線圈的磁通變化狀態(tài)；
6、基于所述磁通變化狀態(tài)，檢測(cè)所述電流注入操作是否成功注入電流。
7、在一些實(shí)施例中，所述方法包括：
8、獲取第一映射關(guān)系；其中，所述第一映射關(guān)系包括磁通變化量與電流幅度之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系；
9、基于所述磁通變化狀態(tài)以及所述第一映射關(guān)系，確定所述拾波線圈中電流的第一電流幅度。
10、在一些實(shí)施例中，所述通過(guò)處于超導(dǎo)狀態(tài)的檢測(cè)組件檢測(cè)所述拾波線圈的磁通變化狀態(tài)，包括：
11、在將所述環(huán)境的溫度從所述第一溫度調(diào)整至第二溫度的過(guò)程中，通過(guò)所述檢測(cè)組件跟蹤檢測(cè)所述磁通變化狀態(tài)；
12、所述方法還包括：
13、獲取第二映射關(guān)系，其中，所述第二映射關(guān)系包括磁通變化量、電流幅度與溫度數(shù)據(jù)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系；
14、基于與所述第一溫度至所述第二溫度對(duì)應(yīng)的所述磁通變化狀態(tài)、以及所述第二映射關(guān)系，確定所述拾波線圈中電流的第二電流幅度。
15、在一些實(shí)施例中，所述檢測(cè)組件包括鋁鍵合線以及約瑟夫森結(jié)；所述通過(guò)處于超導(dǎo)狀態(tài)的檢測(cè)組件檢測(cè)所述拾波線圈的磁通變化狀態(tài)，包括：
16、通過(guò)處于超導(dǎo)狀態(tài)的所述鋁鍵合線將所述磁通變化狀態(tài)傳導(dǎo)至所述約瑟夫森結(jié)，以供所述約瑟夫森結(jié)檢測(cè)所述磁通變化狀態(tài)。
17、在一些實(shí)施例中，所述調(diào)整所述核探測(cè)器所處環(huán)境的溫度至第一溫度之前，所述方法還包括：
18、將所述核探測(cè)器所處環(huán)境的溫度調(diào)整至第三溫度，以使得所述拾波線圈以及與所述拾波線圈關(guān)聯(lián)的支路切換至超導(dǎo)狀態(tài)；其中，所述拾波線圈與所述支路電性連接構(gòu)成電流回路；
19、將所述支路從超導(dǎo)狀態(tài)調(diào)整至有阻態(tài)；
20、通過(guò)所述拾波線圈以及所述支路電性連接的輸入端注入電流，以執(zhí)行所述電流注入操作。
21、在一些實(shí)施例中，所述將所述支路從超導(dǎo)狀態(tài)調(diào)整至有阻態(tài)，包括：
22、向所述支路所包含的加熱電阻注入加熱電流，以觸發(fā)所述加熱電阻為所述支路加熱，使得所述支路從所述超導(dǎo)狀態(tài)切換至所述有阻態(tài)。
23、在一些實(shí)施例中，所述通過(guò)所述拾波線圈以及所述支路電性連接的輸入端注入電流之后，所述方法還包括：
24、將所述支路從所述有阻態(tài)調(diào)整至超導(dǎo)狀態(tài)。
25、本申請(qǐng)實(shí)施例還提供了一種核探測(cè)器的電流檢測(cè)裝置，所述檢測(cè)裝置包括：
26、調(diào)整模塊，用于調(diào)整所述核探測(cè)器所處環(huán)境的溫度至第一溫度，以控制檢測(cè)組件切換至超導(dǎo)狀態(tài)；其中，所述核探測(cè)器的拾波線圈預(yù)先被執(zhí)行電流注入操作；所述檢測(cè)組件電性連接至所述拾波線圈的兩端；
27、檢測(cè)模塊，用于通過(guò)處于超導(dǎo)狀態(tài)的檢測(cè)組件檢測(cè)所述拾波線圈的磁通變化狀態(tài)；
28、基于所述磁通變化狀態(tài)，檢測(cè)所述電流注入操作是否成功注入電流。
29、本申請(qǐng)實(shí)施例還提供了一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括處理器和存儲(chǔ)器；所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序；所述計(jì)算機(jī)程序被所述處理器執(zhí)行時(shí)，能夠?qū)崿F(xiàn)如前任一所述的核探測(cè)器的電流檢測(cè)方法。
30、本申請(qǐng)實(shí)施例還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序；所述計(jì)算機(jī)程序被電子設(shè)備的處理器執(zhí)行時(shí)，能夠?qū)崿F(xiàn)如前任一所述的核探測(cè)器的電流檢測(cè)方法。
31、本申請(qǐng)實(shí)施例還提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，所述程序產(chǎn)品中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序；所述計(jì)算機(jī)程序被電子設(shè)備的處理器執(zhí)行時(shí)，能夠?qū)崿F(xiàn)如前任一所述的核探測(cè)器的電流檢測(cè)方法。
32、本申請(qǐng)實(shí)施例提供的核探測(cè)器的電流檢測(cè)方法中，調(diào)整核探測(cè)器所處環(huán)境的溫度至第一溫度，以控制檢測(cè)組件切換至超導(dǎo)狀態(tài)，而核探測(cè)器的拾波線圈的兩端電性連接至檢測(cè)組件、且拾波線圈預(yù)先被執(zhí)行電流注入操作，如此，通過(guò)上述操作，使得處于超導(dǎo)狀態(tài)的檢測(cè)組件能夠無(wú)損耗的傳導(dǎo)拾波線圈中電流流動(dòng)對(duì)應(yīng)的磁通變化狀態(tài)；并且，在電流注入操作成功注入電流的情況下，通過(guò)處于超導(dǎo)狀態(tài)的檢測(cè)組件檢測(cè)拾波線圈的磁通變化狀態(tài)，能夠降低對(duì)電流對(duì)應(yīng)的電能的損耗，也提高針對(duì)磁通變化狀態(tài)檢測(cè)的精準(zhǔn)度；在此基礎(chǔ)上，基于磁通變化狀態(tài)，檢測(cè)電流注入操作是否成功注入電流，能夠提高上述檢測(cè)的精準(zhǔn)度；綜上所述，本申請(qǐng)實(shí)施例提供的技術(shù)方案，在無(wú)須對(duì)核探測(cè)器的設(shè)備結(jié)構(gòu)進(jìn)行改動(dòng)的情況下，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)其拾波線圈中是否注入電流的靈活檢測(cè)。
1.一種核探測(cè)器的電流檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過(guò)處于超導(dǎo)狀態(tài)的檢測(cè)組件檢測(cè)所述拾波線圈的磁通變化狀態(tài)，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述檢測(cè)組件包括鋁鍵合線以及約瑟夫森結(jié)；所述通過(guò)處于超導(dǎo)狀態(tài)的檢測(cè)組件檢測(cè)所述拾波線圈的磁通變化狀態(tài)，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述調(diào)整所述核探測(cè)器所處環(huán)境的溫度至第一溫度之前，所述方法還包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述將所述支路從超導(dǎo)狀態(tài)調(diào)整至有阻態(tài)，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述通過(guò)所述拾波線圈以及所述支路電性連接的輸入端注入電流之后，所述方法還包括：
8.一種核探測(cè)器的電流檢測(cè)裝置，其特征在于，所述核探測(cè)器的電流檢測(cè)裝置包括：
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括處理器和存儲(chǔ)器；所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序；所述計(jì)算機(jī)程序被所述處理器執(zhí)行時(shí)，能夠?qū)崿F(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一所述的核探測(cè)器的電流檢測(cè)方法。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序；所述計(jì)算機(jī)程序被電子設(shè)備的處理器執(zhí)行時(shí)，能夠?qū)崿F(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一所述的核探測(cè)器的電流檢測(cè)方法。
11.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，其特征在于，所述程序產(chǎn)品中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序；所述計(jì)算機(jī)程序被電子設(shè)備的處理器執(zhí)行時(shí)，能夠?qū)崿F(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一所述的核探測(cè)器的電流檢測(cè)方法。