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一種基于廣角的指紋模組測試方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)與流程

文檔序號:42326604發(fā)布日期:2025-07-01 19:45閱讀:8來源:國知局

本發(fā)明涉及模組測試,具體而言,涉及一種基于廣角的指紋模組測試方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)。


背景技術(shù):

1、現(xiàn)有技術(shù)中,對于增大指紋的識(shí)別區(qū)域,可以采用廣角的光學(xué)模組進(jìn)行拍攝,但使用的同時(shí)引入了畸變和解析力問題。

2、其中,畸變主要是指成像過程中由于透鏡形狀、組裝等因素導(dǎo)致的圖像失真;畸變會(huì)影響圖像的準(zhǔn)確性和可讀性。解析力,是指成像系統(tǒng)能夠清晰分辨的最小細(xì)節(jié)或物體的能力。它受到多種因素的影響,包括攝影設(shè)備的像素分辨率、鏡頭質(zhì)量以及成像過程中的各種因素。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供同時(shí)兼顧測試解析力和判斷畸變校正是否符合標(biāo)準(zhǔn)。

2、本發(fā)明的第一方面提供了一種基于廣角的指紋模組測試方法,所述方法包括:

3、獲取一能夠覆蓋攝像模組滿屏的棋盤格樣式圖像,畸變校正后獲取第一圖像,確定所述第一圖像的第一roi區(qū)域、待測區(qū)域;

4、對所述第一roi區(qū)域進(jìn)行角點(diǎn)檢測,尋找兩個(gè)最近的角點(diǎn),確定第一邊長以及旋轉(zhuǎn)角度;

5、分別計(jì)算任意兩個(gè)角點(diǎn)之間的距離,若所述距離小于第一預(yù)設(shè)閾值,則進(jìn)行存儲(chǔ)所述兩個(gè)角點(diǎn)的坐標(biāo)信息;

6、根據(jù)所述坐標(biāo)信息確定與所述待測區(qū)域確定待檢測點(diǎn),對所述待檢測點(diǎn)取第二roi區(qū)域,進(jìn)行sfr解析力測試。

7、進(jìn)一步,所述方法還包括:

8、根據(jù)所述旋轉(zhuǎn)角度對所述第一圖像進(jìn)行旋轉(zhuǎn),獲取第二圖像;

9、檢測所述第二圖像的外圍四邊角點(diǎn),并判斷所述外圍四邊角點(diǎn)形成的外圍邊的線性度;

10、若所述線性度小于第二預(yù)設(shè)閾值,則確定測試結(jié)果不符合標(biāo)準(zhǔn)。

11、進(jìn)一步,所述第一預(yù)設(shè)閾值根據(jù)第一邊長確定;所述第一邊長為所述兩個(gè)最近的角點(diǎn)的長度;

12、所述分別計(jì)算任意兩個(gè)角點(diǎn)之間的距離,若所述距離小于第一預(yù)設(shè)閾值,則進(jìn)行存儲(chǔ)所述兩個(gè)角點(diǎn)的坐標(biāo)信息,包括:

13、判斷所述兩個(gè)角點(diǎn)的水平和豎直方向的差異,若兩個(gè)角點(diǎn)水平方向的距離大于豎直方向的距離,則歸納為水平方向儲(chǔ)存;若兩個(gè)角點(diǎn)豎直方向的距離大于水平方向的距離,則歸納為豎直方向儲(chǔ)存;

14、其中,所述水平方向儲(chǔ)存、豎直方向儲(chǔ)存分別采用置位存儲(chǔ)方式存儲(chǔ)坐標(biāo)至水平容器、豎直容器。

15、進(jìn)一步,所述待測區(qū)域?yàn)橐淮郎y點(diǎn);所述根據(jù)所述坐標(biāo)信息確定與所述待測區(qū)域確定待檢測點(diǎn),對所述待檢測點(diǎn)取第二roi區(qū)域,包括:

16、分別從水平容器、豎直容器中確定與所述待測點(diǎn)最近的第一坐標(biāo)點(diǎn)、第二坐標(biāo)點(diǎn)為待檢測點(diǎn);

17、分別根據(jù)第一坐標(biāo)點(diǎn)、第二坐標(biāo)點(diǎn)為中心,取最小的外接矩形框作為第二roi區(qū)域。

18、進(jìn)一步,所述待測區(qū)域?yàn)橐淮郎y點(diǎn);所述根據(jù)所述坐標(biāo)信息確定與所述待測區(qū)域確定待檢測點(diǎn),對所述待檢測點(diǎn)取第二roi區(qū)域,還包括:

19、計(jì)算第一坐標(biāo)點(diǎn)、第二坐標(biāo)點(diǎn)的的中心位置,作為新起點(diǎn),分別求除了第一坐標(biāo)點(diǎn)、第二坐標(biāo)點(diǎn)外的水平容器和豎直容器內(nèi),與所述新起點(diǎn)最近距離的第三坐標(biāo)點(diǎn)、第四坐標(biāo)點(diǎn);

20、確定所述第一坐標(biāo)點(diǎn)、第二坐標(biāo)點(diǎn)、第三坐標(biāo)點(diǎn)、第四坐標(biāo)點(diǎn)為待檢測點(diǎn);

21、分別根據(jù)第一坐標(biāo)點(diǎn)、第二坐標(biāo)點(diǎn)、第三坐標(biāo)點(diǎn)、第四坐標(biāo)點(diǎn)為中心,取最小的外接矩形框作為第二roi區(qū)域。

22、此外,本發(fā)明的第二方面提供了一種基于廣角的指紋模組測試系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括第一確定模塊、第二確定模塊、計(jì)算與存儲(chǔ)模塊以及測試模塊,其中:

23、第一確定模塊,用于獲取一能夠覆蓋攝像模組滿屏的棋盤格樣式圖像,畸變校正后獲取第一圖像,確定所述第一圖像的第一roi區(qū)域、待測區(qū)域;

24、第二確定模塊,對所述第一roi區(qū)域進(jìn)行角點(diǎn)檢測,尋找兩個(gè)最近的角點(diǎn),確定第一邊長以及旋轉(zhuǎn)角度;

25、計(jì)算與存儲(chǔ)模塊,用于分別計(jì)算任意兩個(gè)角點(diǎn)之間的距離,若所述距離小于第一預(yù)設(shè)閾值,則進(jìn)行存儲(chǔ)所述兩個(gè)角點(diǎn)的坐標(biāo)信息;

26、第一測試模塊,用于根據(jù)所述坐標(biāo)信息確定與所述待測區(qū)域確定待檢測點(diǎn),對所述待檢測點(diǎn)取第二roi區(qū)域,進(jìn)行sfr解析力測試。

27、進(jìn)一步,所述系統(tǒng)還包括第二測試模塊,用于:

28、根據(jù)所述旋轉(zhuǎn)角度對所述第一圖像進(jìn)行旋轉(zhuǎn),獲取第二圖像;

29、檢測所述第二圖像的外圍四邊角點(diǎn),并判斷所述外圍四邊角點(diǎn)形成的外圍邊的線性度;

30、若所述線性度小于第二預(yù)設(shè)閾值,則確定測試結(jié)果不符合標(biāo)準(zhǔn)。

31、進(jìn)一步,所述第一預(yù)設(shè)閾值根據(jù)第一邊長確定;所述第一邊長為所述兩個(gè)最近的角點(diǎn)的長度;

32、所述計(jì)算與存儲(chǔ)模塊,還用于判斷所述兩個(gè)角點(diǎn)的水平和豎直方向的差異,若兩個(gè)角點(diǎn)水平方向的距離大于豎直方向的距離,則歸納為水平方向儲(chǔ)存;若兩個(gè)角點(diǎn)豎直方向的距離大于水平方向的距離,則歸納為豎直方向儲(chǔ)存;

33、其中,所述水平方向儲(chǔ)存、豎直方向儲(chǔ)存分別采用置位存儲(chǔ)方式存儲(chǔ)坐標(biāo)至水平容器、豎直容器。

34、進(jìn)一步,所述待測區(qū)域?yàn)橐淮郎y點(diǎn);所述第一測試模塊,還用于:

35、分別從水平容器、豎直容器中確定與所述待測點(diǎn)最近的第一坐標(biāo)點(diǎn)、第二坐標(biāo)點(diǎn)為待檢測點(diǎn);

36、分別根據(jù)第一坐標(biāo)點(diǎn)、第二坐標(biāo)點(diǎn)為中心,取最小的外接矩形框作為第二roi區(qū)域。

37、此外,本發(fā)明的第三方面提供了一種存儲(chǔ)介質(zhì),所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序;所述程序由處理器加載并執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如上第一方面所述的基于廣角的指紋模組測試方法步驟。

38、本發(fā)明的方案中,通過獲取一能夠覆蓋攝像模組滿屏的棋盤格樣式圖像,畸變校正后獲取第一圖像,確定所述第一圖像的第一roi區(qū)域、待測區(qū)域;對所述第一roi區(qū)域進(jìn)行角點(diǎn)檢測,尋找兩個(gè)最近的角點(diǎn),確定第一邊長以及旋轉(zhuǎn)角度;分別計(jì)算任意兩個(gè)角點(diǎn)之間的距離,若所述距離小于第一預(yù)設(shè)閾值,則進(jìn)行存儲(chǔ)所述兩個(gè)角點(diǎn)的坐標(biāo)信息;根據(jù)所述坐標(biāo)信息確定與所述待測區(qū)域確定待檢測點(diǎn),對所述待檢測點(diǎn)取第二roi區(qū)域,進(jìn)行sfr解析力測試。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明能夠同時(shí)兼顧測試解析力和判斷畸變校正是否符合標(biāo)準(zhǔn)。



技術(shù)特征:

1.一種基于廣角的指紋模組測試方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于廣角的指紋模組測試方法,其特征在于,所述方法還包括:

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于廣角的指紋模組測試方法,其特征在于,所述第一預(yù)設(shè)閾值根據(jù)第一邊長確定;所述第一邊長為所述兩個(gè)最近的角點(diǎn)的長度;

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于廣角的指紋模組測試方法,其特征在于,所述待測區(qū)域?yàn)橐淮郎y點(diǎn);所述根據(jù)所述坐標(biāo)信息確定與所述待測區(qū)域確定待檢測點(diǎn),對所述待檢測點(diǎn)取第二roi區(qū)域,包括:

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于廣角的指紋模組測試方法,其特征在于,所述待測區(qū)域?yàn)橐淮郎y點(diǎn);所述根據(jù)所述坐標(biāo)信息確定與所述待測區(qū)域確定待檢測點(diǎn),對所述待檢測點(diǎn)取第二roi區(qū)域,還包括:

6.一種基于廣角的指紋模組測試系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)包括第一確定模塊、第二確定模塊、計(jì)算與存儲(chǔ)模塊以及測試模塊,其中:

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于廣角的指紋模組測試系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)還包括第二測試模塊,用于:

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基于廣角的指紋模組測試系統(tǒng),其特征在于,所述第一預(yù)設(shè)閾值根據(jù)第一邊長確定;所述第一邊長為所述兩個(gè)最近的角點(diǎn)的長度;

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基于廣角的指紋模組測試系統(tǒng),其特征在于,所述待測區(qū)域?yàn)橐淮郎y點(diǎn);所述第一測試模塊,還用于:

10.一種存儲(chǔ)介質(zhì),所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序;所述程序由處理器加載并執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的基于廣角的指紋模組測試方法步驟。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種基于廣角的指紋模組測試方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)。通過獲取一能夠覆蓋攝像模組滿屏的棋盤格樣式圖像,畸變校正后獲取第一圖像,確定所述第一圖像的第一ROI區(qū)域、待測區(qū)域;對所述第一ROI區(qū)域進(jìn)行角點(diǎn)檢測,尋找兩個(gè)最近的角點(diǎn),確定第一邊長以及旋轉(zhuǎn)角度;分別計(jì)算任意兩個(gè)角點(diǎn)之間的距離,若所述距離小于第一預(yù)設(shè)閾值,則進(jìn)行存儲(chǔ)所述兩個(gè)角點(diǎn)的坐標(biāo)信息;根據(jù)所述坐標(biāo)信息確定與所述待測區(qū)域確定待檢測點(diǎn),對所述待檢測點(diǎn)取第二ROI區(qū)域,進(jìn)行SFR解析力測試。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明能夠同時(shí)兼顧測試解析力和判斷畸變校正是否符合標(biāo)準(zhǔn)。

技術(shù)研發(fā)人員:林挺,羅芳文
受保護(hù)的技術(shù)使用者:信利光電科技(汕尾)有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/6/30
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