本發(fā)明屬于集成電路制造,具體涉及一種閃存數(shù)據(jù)保持特性的測試方法。、隨著電子產(chǎn)品市場的發(fā)展,閃存作為主要的存儲器在手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)等產(chǎn)品中得到了廣泛應(yīng)用,市場規(guī)模在不斷的擴(kuò)大。衡量閃存好壞的一個重要設(shè)計指標(biāo)是數(shù)據(jù)保持特性,即要求所存儲的數(shù)據(jù)能夠保存年以上。閃存基于電荷存儲原理實現(xiàn)數(shù)據(jù)的存儲,所...