本申請(qǐng)涉及x射線，尤其是涉及一種礦物成分在線檢測(cè)系統(tǒng)、方法及裝置。
背景技術(shù)：
1、x射線是一種波長(zhǎng)為0.01～10納米，頻率為30～30000phz的電磁輻射，即x射線是一種頻率極高、波長(zhǎng)極短和能量很大的電磁波。x射線具有穿透性，x射線與物質(zhì)作用產(chǎn)生x射線熒光(x-ray?fluorescence，簡(jiǎn)稱xrf)，通過(guò)測(cè)量和分析x射線熒光的能譜信號(hào)，就可以獲知物質(zhì)的元素組成，得到物質(zhì)成分。
2、但是，由于實(shí)際環(huán)境的干擾，導(dǎo)致x射線熒光的能譜信號(hào)中存在干擾信息，在基于x射線熒光的能譜信號(hào)確定物質(zhì)成分時(shí)，可能得到錯(cuò)誤的結(jié)果。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N礦物成分在線檢測(cè)系統(tǒng)，所述系統(tǒng)至少包括：
2、制樣子系統(tǒng)，用于對(duì)待檢測(cè)礦物進(jìn)行在線制樣操作；
3、能譜采集子系統(tǒng)，位于制樣子系統(tǒng)的下游，所述能譜采集子系統(tǒng)至少包括x光管、高壓控制器和能譜探測(cè)器；所述高壓控制器，用于控制所述x光管向所述待檢測(cè)礦物發(fā)射x射線；所述能譜探測(cè)器，用于在獲取到所述待檢測(cè)礦物達(dá)到檢測(cè)位置的觸發(fā)信號(hào)時(shí)，進(jìn)行所述待檢測(cè)礦物的光譜數(shù)據(jù)采集，得到所述待檢測(cè)礦物的初始能譜信號(hào)；其中，所述初始能譜信號(hào)包括所述待檢測(cè)礦物被所述x射線照射后產(chǎn)生的x射線熒光信號(hào)和散射光信號(hào)；
4、信息采集子系統(tǒng)，所述信息采集子系統(tǒng)包括激光測(cè)距裝置；所述激光測(cè)距裝置，用于采集所述待檢測(cè)礦物表面的形貌信息；
5、數(shù)據(jù)處理子系統(tǒng)，用于獲取所述初始能譜信號(hào)和所述形貌信息，所述形貌信息用于表征所述待檢測(cè)礦物表面的粗糙度和/或平整度；基于所述形貌信息對(duì)所述初始能譜信號(hào)進(jìn)行校正，得到校正后的目標(biāo)能譜信號(hào)；
6、其中，所述目標(biāo)能譜信號(hào)用于分析待檢測(cè)礦物的物質(zhì)成分。
7、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N礦物成分在線檢測(cè)方法，所述方法包括：
8、向待檢測(cè)礦物發(fā)射x射線，并對(duì)所述待檢測(cè)礦物被所述x射線照射后產(chǎn)生的x射線熒光和散射光進(jìn)行檢測(cè)，得到所述待檢測(cè)礦物的初始能譜信號(hào)；
9、獲取待檢測(cè)礦物表面的形貌信息，所述形貌信息用于表征所述待檢測(cè)礦物表面的粗糙度和/或平整度；
10、基于所述形貌信息對(duì)所述初始能譜信號(hào)進(jìn)行校正，得到校正后的目標(biāo)能譜信號(hào)，所述目標(biāo)能譜信號(hào)用于分析所述待檢測(cè)礦物的物質(zhì)成分。
11、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N礦物成分在線檢測(cè)裝置，所述裝置包括：
12、獲取模塊，用于獲取初始能譜信號(hào)和待檢測(cè)礦物表面的形貌信息，所述形貌信息用于表征所述待檢測(cè)礦物表面的粗糙度和/或平整度；其中，所述初始能譜信號(hào)是對(duì)待檢測(cè)礦物被x射線照射后產(chǎn)生的x射線熒光和散射光進(jìn)行檢測(cè)得到；校正模塊，用于基于所述形貌信息對(duì)所述初始能譜信號(hào)進(jìn)行校正，得到校正后的目標(biāo)能譜信號(hào)，所述目標(biāo)能譜信號(hào)用于分析待檢測(cè)礦物的物質(zhì)成分。
13、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N電子設(shè)備，包括：處理器和機(jī)器可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述機(jī)器可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有能夠被所述處理器執(zhí)行的機(jī)器可執(zhí)行指令；所述處理器用于執(zhí)行機(jī)器可執(zhí)行指令，以實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)上述示例的礦物成分在線檢測(cè)方法。
14、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，所述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品包括計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)上述示例的礦物成分在線檢測(cè)方法。
15、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N機(jī)器可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述機(jī)器可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有能夠被處理器執(zhí)行的機(jī)器可執(zhí)行指令；其中，所述處理器用于執(zhí)行所述機(jī)器可執(zhí)行指令，以實(shí)現(xiàn)上述示例的礦物成分在線檢測(cè)方法。
16、由以上技術(shù)方案可見，本申請(qǐng)實(shí)施例中，在得到x射線熒光的初始能譜信號(hào)之后，能夠?qū)Τ跏寄茏V信號(hào)進(jìn)行校正得到目標(biāo)能譜信號(hào)，通過(guò)校正排除初始能譜信號(hào)中的干擾信息，繼而基于目標(biāo)能譜信號(hào)分析待檢測(cè)礦物的物質(zhì)成分，能夠得到準(zhǔn)確的物質(zhì)成分結(jié)果，避免得到錯(cuò)誤的物質(zhì)成分結(jié)果。
1.一種礦物成分在線檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)至少包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述形貌信息包括所述待檢測(cè)礦物表面的多個(gè)位置點(diǎn)的高度；所述數(shù)據(jù)處理子系統(tǒng)基于所述形貌信息對(duì)所述初始能譜信號(hào)進(jìn)行校正，得到校正后的目標(biāo)能譜信號(hào)時(shí)具體用于：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理子系統(tǒng)基于所述形貌信息對(duì)所述初始能譜信號(hào)進(jìn)行校正，得到校正后的目標(biāo)能譜信號(hào)時(shí)具體用于：
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述信息采集子系統(tǒng)還包括溫度傳感器，所述溫度傳感器，用于采集所述x光管表面的當(dāng)前溫度信息；
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，若所述目標(biāo)校正信息還包括目標(biāo)濕度，則所述信息采集子系統(tǒng)還包括濕度傳感器，所述濕度傳感器，用于采集x光路中的當(dāng)前濕度信息；
6.根據(jù)權(quán)利要求2-5任一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，其特征在于，
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括：附加子系統(tǒng)，所述附加子系統(tǒng)包括輻射屏蔽防護(hù)裝置，所述輻射屏蔽防護(hù)裝置，用于避免所述能譜探測(cè)器接收到的x射線對(duì)外部造成輻射。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，
12.一種礦物成分在線檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括：
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其特征在于，所述形貌信息包括所述待檢測(cè)礦物表面的多個(gè)位置點(diǎn)的高度；所述基于所述形貌信息對(duì)所述初始能譜信號(hào)進(jìn)行校正，得到校正后的目標(biāo)能譜信號(hào)，包括：
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
17.一種礦物成分在線檢測(cè)裝置，其特征在于，所述裝置包括：
18.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：處理器和機(jī)器可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述機(jī)器可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有能夠被所述處理器執(zhí)行的機(jī)器可執(zhí)行指令；所述處理器用于執(zhí)行機(jī)器可執(zhí)行指令，以實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求12-16任一所述的方法。
19.一種機(jī)器可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述機(jī)器可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有能夠被處理器執(zhí)行的機(jī)器可執(zhí)行指令；其中，所述處理器用于執(zhí)行所述機(jī)器可執(zhí)行指令，以實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求12-16任一所述的方法。